如何选到合适的底部填充胶？1、热膨胀系数（CTE）。焊点的寿命主要取决于芯片、PCB和底部填充胶之间的CTE匹配，理论上热循环应力是CTE、弹性模量E和温度变化的函数。但根据实验统计分析显示CTE1是主要的影响因素。由于CTE2与CTE1相关性很强，不管温度在（Tg）以下还是（Tg）以上，CTE2都会随着CTE1增加而增加，因此CTE2也是关键因素。2、玻璃转化温度。温度在材料高CTE的情况下对热循环疲劳寿命没有明显的影响，但在CTE比较小的情况下对疲劳寿命则有一定影响，因为材料在温度点以下和温度点以上，CTE变化差异很大。实验表明，在低CTE情况下，温度越高热循环疲劳寿命越长。底部填充胶固化之后可以起到缓和温度冲击及吸收内部应力，极大增强了连接的可信赖性。宿迁低温填充胶厂家
一般底部填充胶是提高芯片封装可靠性及使用可靠性的重要电子工艺材料。底部填充胶的主要作用就是解决芯片BGA焊球与PCB板之间的热应力、机械应力集中的问题，因此对胶水来说，其与现有工艺的适配性以及对芯片可靠性能的提升改善程度，按作用力类型，可以从力学环境、气候环境、电应力环境以及综合应力环境4个方向选择合适的试验评估芯片组装的可靠性。通常选择振动、冲击、跌落、热冲击等试验考察样品的可靠性，使用底填胶后，芯片可靠性提升，焊球未见裂纹或开裂。岳阳电子底部填充胶厂家底部填充胶需要具有良好的流动性，较低的粘度，快速固化。
底部填充胶产生水气空洞的原因：存在于基板中的水气在底部填充胶(underfill)固化时会释放，从而在固化过程产生底部填充胶(underfill)空洞。这些空洞通常随机分布，并具有指形或蛇形的形状，这种空洞在使用有机基板的封装中经常会碰到。水气空洞检测/消除方法：要测试空洞是否由水气引起，可将部件在100℃以上前烘几小时，然后立刻在部件上施胶。一旦确定水气是空洞的产生的根本原因，就要进行进一步试验来确认较佳的前烘次数和温度，并且确定相关的存放规定。一种较好的含水量测量方法是用精确分析天平来追踪每个部件的重量变化。需要注意的是，与水气引发的问题相类似，一些助焊剂沾污产生的问题也可通过前烘工艺来进行补救，这两类问题可以通过试验很方便地加以区分。如果部件接触到湿气后，若是水气引发的问题则会再次出现，而是助焊剂沾污所引发的问题将不再出现。
一般芯片底部填充胶主要用于CSP/BGA等倒装芯片的补强，提高电子产品的机械性能和可靠性。倒装焊连接技术是目前半导体封装的主流技术。倒装芯片连接引线短，焊点直接与印刷线路板或其它基板焊接，引线电感小，信号间窜扰小，信号传输延时短，电性能好，是互连中延时较短、寄生效应较小的一种互连方法。这些优点使得倒装芯片在便携式设备轻薄、短小的要求下得到了快速发展。在手机、平板电脑、电子书等便携设备中常用的BGA/CSP芯片结构，BGA/CSP的芯片引脚在元件的底部，成球栅矩阵排列，通过底部焊点与线路板进行连接。底部填充胶通过低温加热快速固化达到粘接的目的。
底部填充胶是一种单组分、低粘度、流动性好、可返修的底部填充剂。底部填充胶用于CSP、BGA以及其它类型设备时，可降低应力、改善可靠度、并提供较好的加工性能。底部填充胶具有快速固化、室温流动性、高可靠性、可返工性，在热循环、热冲击、跌落实验和其它必要实验及实际使用中稳定性较好。底部填充胶使用寿命越短包装应该稍小，比如用于倒装芯片的胶水容量不要超过50ml，以便在短时间内用完。大规模生产中，使用期长的胶水可能会用到1000ml的大容量桶装，为此需要分装成小容量针筒以便点胶作业，在分装或更换针筒要避免空气混入。底部填充胶一般应用在MP3、USB、手机、篮牙等手提电子产品的线路板组装。底部填充胶固化之后可以起到缓和温度冲击及吸收内部应力，极大增强了连接的可信赖性。底部填充胶主要是为解决手机，数码相机，手提电脑等移动数码产品的芯片底部填充用。廊坊led底部填充胶厂家
底部填充胶容易进行硬化反应，导致无流动，温度影响底部填充胶的应用很关键。宿迁低温填充胶厂家
底部填充是倒装芯片互连工艺的主要工序之一，会直接影响倒装芯片的可靠性。倒装芯片是将芯片有源区面对基板，通过芯片上呈阵列排列的焊料凸点来实现芯片与衬底的互连。由于硅芯片与有机材料电路基板热膨胀系数的差别较大，在温度的循环下会产生热应力差，使连接芯片与电路基板的焊球点（凸点）断裂，从而使元件的电热阻增加，甚至使整个元件失效。解决这个问题既直接又简单的办法是，在芯片与电路基板之间填充密封剂（简称填充胶），这样可以增加芯片与基板的连接面积，提高二者的结合强度，对凸点起到保护作用。underfill胶是环保型改性环氧树脂胶粘剂，通过低温加热快速固化达到粘接的目的。宿迁低温填充胶厂家