探测器光谱响应度测试系统的使用提高了效率,探测器光谱响应度测试系统主要用于测量光电材料的光谱响应度一定值曲线,表征材料光电转换性质。光源经光学斩波器斩波后再由单色仪分光后进入样品室,照射在样品上。样品室内包含2 个样品架,分别为参考探测器样品架、测试样品架。软件控制光谱仪做光谱扫描,同时样品和参考探测器得到的光电流经过锁相放大器采集数据之后送计算机进行数据处理。参考探测器光谱响应度已知,通过对比测试得到样品的光谱响应度一定值。探测器光谱响应度测试系统有激光监视光路选项,CCD图像监控。广东日盲探测器光谱响应度测试系统研发
探测器光谱响应度测试系统怎么样?激光监视光路选项,CCD图像监控,可对小面积的光电探测器进行定位。对于未来要做成阵列探测器的器件,光敏面往往非常小,特别是有些探测器还会安装在杜瓦瓶内。要把光斑准确的打在光敏面上,采用目视对准的方法无法保证性,几乎没有重复性可言。而采用激光监视光路,配合CCD相机进行可视化控制,不但可以做到定位,还可以多次重复。标准测量软件,数据导出格式支持第三方软件,探测器光谱响应度测试系统的软件保存所有测试原始数据,可供实验人员导出成txt、xls等常见格式的文档,以便后期分析处理。广东日盲探测器光谱响应度测试系统研发探测器光谱响应度测试系统采用国家标准计量方法进行测试,是光电器件、光电转换材料科研和检验的工具。
探测器光谱响应度测试系统全反射光路设计,优化光斑质量。由于各种光电探测器的光谱响应范围不同,因此好的探测器光谱响应度测试系统应该是宽光谱范围的,这样才能具备较强的通用性。在宽光谱范围的光学设计中,采用反射式的光路设计要比透射式得到更高的品质的光束质量和均匀光斑。在透射式的光学系统中,影响光束质量和光斑品质的重要因素是色差,色差源自于不同波长的单色光在光学材料中的折射率不同,波长范围越宽,色差越明显。而在反射式的光学系统中,由于根本不涉及折射,所以不存在色差的问题。因此采用反射式光路,成像质量大幅度优于透射式光路,从而可以得到更高均匀度的平行光斑,或者更小尺寸的汇聚光斑。
探测器光谱响应度测试系统高稳定性光源,降低背景噪声影响。尽管采用调制法可以降低系统杂散光和背景噪声对测量的影响,但光源本身的波动依然无法消除。因此,在采用调制法的系统中,光源稳定性反而成为系统噪声的主要来源。探测器光谱响应度测试系统采用高稳定性的光源来保证系统的高重复性。全自动测量流程:1)自动化测量流程得到高重复性,样品的重复定位精度很大程度上决定了测量重复性,电动平移台重复定位精度<10um,远远高于手动样品定位。2)自动化测量流程降低了操作人员的要求,按软件文字提示即可正确操作系统进行测量,不需要对操作人员进行复杂的培训,特别适合工业客户做检测用。3)自动化测量流程提高时间利用率,系统在预设方案后即自动运行测量流程,可提高操作人员时间利用率。探测器光谱响应度测试系统,是适应不断增长的材料科学对检测设备的需求而诞生的。
光电探测器光谱响应度测试系统涉及光电子技术领域;包括依次光连接的光频梳输出模块、双驱强度调制模块和待测光电探测器,还包括与待测光电探测器电连接的频谱分析与数据处理模块,还包括分别与双驱强度调制模块的两个射频输入端连接信号源一和信号源二;光电探测器光谱响应度测试系统解决了这四个问题:(1)扫频法无法摆脱对电光转换器件的额外校准;(2)光外差法测量精度和稳定性不高;(3)强度噪声法的信号比和动态范围小;(4)移频外差法受限于电光转换器件带宽,而造成的测量成本高、测量精度低和可靠性差,无法满足超带宽光电探测器响应度测量。探测器光谱响应度测试系统适用于各种不同样品。广东日盲探测器光谱响应度测试系统研发
由于各种光电探测器的光谱响应范围不同,因此好的探测器光谱响应度测试系统应该是宽光谱范围的。广东日盲探测器光谱响应度测试系统研发
光电探测器光谱响应度测试系统有关响应方面的性能参数:电流的响应率RI:探测器将入射光信号转换成电流信号Ie的能力。电压响应率RV:探测器将入射光信号转换成电压信号Ve的能力。单色灵敏度Rλ --- 波长为l的单色辐射源。单色灵敏度:输出的光电流iλ与波长为λ的入射到探测器的单色辐射光通量Pλ(或照度)之比。3.积分灵敏度 --- 复色辐射源,表示探测器对连续入射光辐射的反应灵敏程度;响应时间,描述光电器件对入射辐射响应快慢的参数;频率响应度。广东日盲探测器光谱响应度测试系统研发
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