X荧光光谱仪在涂镀层分析中的应用：1.贵金属、珠宝首饰，黄金分析，贵金属合金分析，珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析。2.钢铁、五金电镀，钢材镀锌/铬、铝材镀锆/钛、哈式合金镀层厚度测定。3.装饰材料：装饰涂层分析。4.电子电器：PCB印刷电路板，金手指及连接器上Au/Ni/Cu、Au/Pd/Ni/Cu厚度分析、可焊性能分析如Ag/Cu/Epoxy，RoHS指令合规检查。5.新能源/锂电，电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通过镀层厚度分析优化导电性能。6.微电子、半导体，贴片电子元器件、太阳能电池、焊点、高精度感应芯片、柔性线路板、磁性介质的成分检测和RoHS指令合规检查。7. 防腐涂层，涂层厚度及组分分析。X荧光光谱仪普遍应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域。广东色散型X射线荧光光谱仪采购
X荧光光谱仪特点：低背景单色化激发技术有效降低光管出射谱散射线背景干扰，与硅漂移探测器相配合，将元素分析范围延伸至O和F。微区分析双曲面弯晶技术实现X射线点到点聚焦衍射，实现更高性能的微区分析，理论上聚焦点达到10um级别。元素成像与显微镜组成高精度、高灵敏度（亚ppm）、高空间分辨率元素成像系统仪器小型化采用小功率X射线管，仪器结构简单，实现小型化。应用：石油化工相关产品中微量硫、氯、硅、磷含量检测，对轻元素检出限达到0.1~0.5mg/kg水平；土壤重金属含量检测，可检测农用地以及建设用地土壤环境中Cr、Ni、Cu、Zn、Pb、As、Cd、Sn、Sb、Mn、Co、Tl等，尤其对Cd检出限降低至0.1mg/kg以下；食品重金属快速检测，对食品基体满足国家以及国际相关食品安全标准对重金属限值含量检测，快速检测食品中Cr、As、Pb、Cd等重金属含量；中药重金属含量检测，符合对中药材重金属铅、砷、镉、铜、汞限量值含量检测。北京X射线荧光光谱仪手持式光谱仪能够将实验室技术带到现场，可以对太大、太难处理或成本太高的样本进行分析。
X荧光光谱仪日常所需的常规维护注意点有哪些？偏压(100~1000V)是经过探测器直接接到前置放大器*级场效应管的栅极上。由于半导体反接，偏压几乎全部降在探测器上，而栅极上电压降很小，当偏压突然上升或下降时，在高压电脉冲的冲击下，场效应管易损坏。因此半导体探测器的偏压必须用连续可调的高压电源，缓慢增减。每次开始工作时，由零缓慢、均匀地调至工作电压，每一步不少于1min。防潮。潮湿会导致绝缘子及高压回路漏电。铍窗及真空室积水会损坏铍窗，造成漏气。除经常擦拭之外，好的方法是用一个大的塑料袋把探测器和低温容器的出口一起罩上。由出口不断蒸发出来的低温干燥氮气逐渐赶去罩内的空气和水分并保持很小的压力，保持罩内小范围干燥。
手持式X荧光光谱仪作为一种多元素成分快速分析的便携式设备，其使用简单，可以携带到任何需要测试的地方，能够满足各类应用场景的使用需求。大多数手持式X荧光光谱仪可以测量“轻”如镁的元素，“重”如铀的元素。然而，像氟元素(F)这样的低原子序数(9#)元素对于使用传统的手持X荧光光谱仪来说是非常具有挑战性的。通过光路设计明显提高了轻元素的检测灵敏度，能够测试元素“轻”至钠(Na)和氟(F)，以及较低浓度的镁元素(Mg)和铝元素(Al)测量。手持式X荧光光谱仪封闭式一体化设计，具备防水防尘功能，可在恶劣环境下连续使用。
X荧光光谱仪计数率不稳定故障分析：X荧光光谱仪的常用探测器有二个：流气计数器和闪烁计数器。闪烁计数器很稳定，问题常出现在流气计数器上。流气计数器窗膜由一块聚酯薄膜、hostaphan膜或聚丙烯薄膜镀上一层很薄(约30nm)的铝膜所构成，由于窗膜承受大气压力，一段时间后随着基体材料的延展，铝膜可能产生裂纹，从而减弱导电性能，这种情况对脉冲高度分布影响不大，但会使计数率不稳定。新型号的X荧光光谱仪一般都安装1μm甚至0.6μm的窗膜，而不再使用6μm的窗膜，因此流气计数器的窗膜导电性能下降的可能性增大。检查方法：在低X射线光管功率情况下，选一个KKα计数率约2000CPS的样品，测定计数率，然后用一个钾含量高的样品取代原样品，将光管调到满功率，保持2分钟，再将X射线光管功率减至原值，测量样品，如窗膜导电正常，将得到原计数率，如窗膜导电性能变差，会发现计数率减小，然后慢慢回升至初始值，这时就应调换窗膜。X荧光光谱仪可以用于珠宝镀层分析，铂金上的铑镀层分析。广东色散型X射线荧光光谱仪采购
手持式x荧光光谱仪能有效的质量保证体系全程控制材料，确保用对材料。广东色散型X射线荧光光谱仪采购
X荧光光谱仪由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次X射线)，激发被测样品，产生X荧光(二次X射线)，探测器对X荧光进行检测。X荧光光谱仪分析方法是一个相对分析方法，任何制样过程和步骤必须有非常好的重复操作可能性，所以用于制作标准曲线的标准样品和分析样品必须经过同样的制样处理过程。 由样品制备和样品自身引起的误差：1) 样品的均匀性；2) 样品的表面效应；3) 粉末样品的粒度和处理方法；4) 样品中存在的谱线干扰；5) 样品本身的共存元素影响即基体效应；6) 样品的性质；7) 标准样品的化学值的准确性。广东色散型X射线荧光光谱仪采购
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