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遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪

来源: 发布时间:2022年06月17日

《基本标准》把工作场所分为“控制区”和“监督区”,目的在于方便辐射防护管理和职业照射的控制。注册者和许可证持有者应把需要和可能需要专门防护手段或安全措施的区域定为控制区,以便控制正常工作条件下的正常照射或防止污染扩散,并预防潜在照射或限制潜在照射的范围。把未定为控制区,在其中工作通常不需要专门的防护手段或安全措施,但需要经常对职业照射条件进行监督和评价的区域定为监督区。应当根据预防性辐射防护评价的结果提出工作场所的区分。BF3正比计数管是一种充有BF3气体的正比计数管。遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪

中子射线尤其快中子对人体是有危害的,它的穿透力也不小,而且还能引起其它次生辐射.中子防护中首先是防护快中子让它慢下来,变成热中子,被物质吸收,要用一定厚度的屏蔽材料,材料选择原则:对于几Mev以上快中子,需含一定数量中等或重原子序数元素,使其能量通过非弹性散射快速降到非弹性散射阈能以下.几Mev以下的中子主要用弹性散射慢化,其中氢元素*hao(水、石蜡、聚乙烯、都含有氢),中子在散射、吸收时可能产生γ射线,必要时也要考虑γ射线防护,含硼材料(加入硼酸、硼砂等)有很高热中子吸收截面次级γ射线低的优点,可以考虑选用.中子源不用时放置在井里,必要时用机械臂操作等.个人防护,还要尽量离源远点,减少照射时间.。遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪离子注入型半导体探测器是一种用离子注入工艺制成P-N结的半导体探测器。

为粒度十到几十μm的多晶粉末,密度4.1g/cm3,对α粒子发光效率较高,对γ射线和中子不灵敏,很适合在强γ本底下探测α和裂变碎片,效应**,它的发光光谱在400至600nm,主峰位在412nm,发光衰减时间τ=200ns,快成分100ns,慢成分4.5μs。构成α屏喷涂在有机玻璃插板上,厚1至2nm,构成大面积α表面污染监测仪的探测头,以及构成探测气体放射性的闪烁室。其灵敏度高,能测量微弱的放射性氡,与有机玻璃混合热压而制成快中子屏,探测500keV以上的快中子,以及ZnS(Ag)粉+甘油+硼酸,做成慢中子屏,用于探测热中子和慢中子。

还应当具备以下条件:实验室(一)开展检测服务的实验室,应具有独立法人资格,实验室检测仪器设备和技术人员应满足所申请检测项目的需要。具体包括:1.实验室(1)具有与所从事的检测项目相符合的实验室。实验室分为物理因素测试实验室,化学实验室(无机分析实验室、有机分析实验室),微生物实验室,放射性实验室。(2)实验室的设施和环境条件必须保证检测工作正常运行,并确保检测结果的有效性和准确性。2.仪器设备申请从事室内空气质量检测的实验室的仪器设备应满足所申请的检测项目要求。分为:化验人员(1)采样设备:包括:气体污染物采样泵、气泡吸收管、多孔玻板吸收管、颗粒物采样器、滤膜、流量计、撞击式空气微生物采样器(2)现场测试仪器包括:温度计、湿度计、风速计、便携式一氧化碳分析仪、便携式二氧化碳分析仪;(3)实验室分析仪器和设备包括:分析天平、分光光度计、气相色谱仪、液相色谱仪、热解吸/气相色谱/质谱联用仪、高压蒸汽灭菌器、干热灭菌器、恒温培养箱、冰箱、氡分析仪。采样图片3.专业人员(1)申请检测机构应有与检测项目相适应的管理、技术和质量控制人员。。盖革计数管是工作在盖革放电区的气体电离探测器。

他们对人体造成危害的方式不同。α粒子只有进入人体内部才会造成损伤,这就是内照射;γ射线主要从人体外对人体造成损伤,这就是外照射;β射线既造成内照射,又造成外照射。如何防护α射线?由于α粒子穿透能力**弱,一张白纸就能把它挡住,因此,对于α射线应注意内照射,其进入体内的主要途径是呼吸和进食时,其防护方法主要是:一防止吸入被污染的空气和食入被污染的食物;二防止伤口被污染。如何防护β粒子?β粒子、其穿透能力比α射线强,比γ射线弱,因此,β射线是比较容易阻挡的,用一般的金属就可以阻挡。但是,β射线容易被表层zuzhi吸收,引起zuzhi表层的辐射损伤。因此其防护就复杂的多。方法有:(1)避免直接接触被污染的物品;以防皮肤表面的污染和辐射危害;(2)防止吸入被污染的空气和食入被污染的食物;(3)防止伤口被污染;(4)必要时应采用屏蔽措如何防护γ粒子?γ射线穿透力强,可以造成外照射,其防护的施。方法主要有以下三种:(1)尽可能减少受照射的时间;(2)增大与辐射源间的距离,因为受照剂量与离开源的距离的平方成反比;(3)采取屏蔽措施。在人与辐射源之间加一层足够厚的屏蔽物,可以降低外照射剂量。平行板雪崩室是由两平行平面电极构成,并工作在正比放电区的气体电离探测器。遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪

裂变电离室是一种在电极上涂覆裂变物质灵敏层的电离室。遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪

计量性能要求:

α、β表面污染仪的计量性能要求如下:

计量性能                            技术要求

本底计数率                        满足出厂技术指标

表面发射率响应                 当放射性平面源距探测器窗表面5mm时,对于241Am或239Pu核素α粒子的表面发射率

                                       响应不低于0.20;当放射性平面源距探测器窗表面10mm时,对于204Tl或36Cl核素的β

                                       粒子的表面发射率响应不低于0.15。

重复性                              小于20%

相对固有误差                     不超过±25%

通用技术要求:

外观  α、β表面污染仪外观不应有锈蚀、裂纹和破损等缺点以及影响正常工作的机械损伤,控制面板或系统界面上所设置的功能键应能完成该键指令下的功能。 遂宁长杆测量仪阿尔法贝塔表面污染仪

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